影像測(cè)量?jī)x在測(cè)量過(guò)程中要遵循的兩大原則

　　影像測(cè)量?jī)x多數(shù)用于測(cè)量二維尺寸，適用于以二坐標(biāo)測(cè)量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域。它是建立在CCD數(shù)位影像的基礎(chǔ)上，依托于計(jì)算機(jī)屏幕測(cè)量技術(shù)和空間幾何運(yùn)算的強(qiáng)大軟件能力而產(chǎn)生的。計(jì)算機(jī)在安裝上專用控制與圖形測(cè)量軟件后，變成了具有軟件靈魂的測(cè)量大腦，是整個(gè)設(shè)備的主體。
　　今天，小編主要和大家講講影像測(cè)量?jī)x測(cè)量過(guò)程中要遵循哪些原則？
　　影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量原則：
　　一、最短鏈原則
　　在間接測(cè)量中，與被測(cè)量具有函數(shù)關(guān)系的其它量與被測(cè)量形成測(cè)量鏈。形成測(cè)量鏈的環(huán)節(jié)越多，被測(cè)量的不確定度越大。因此，應(yīng)盡可能減少測(cè)量鏈的環(huán)節(jié)數(shù)，以保證測(cè)量精度，稱之為最短鏈原則。當(dāng)然，按此原則最好不采用間接測(cè)量，而采用直接測(cè)量。所以，只有在不可能采用直接測(cè)量，或直接測(cè)量的精度不能保證時(shí),才采用間接測(cè)量。應(yīng)該以最少數(shù)目的量塊成所需尺寸的量塊組，就是最短鏈原則的一種實(shí)際應(yīng)用。最小變形原則:測(cè)量器具與被測(cè)零件都會(huì)因?qū)嶋H溫度偏離標(biāo)準(zhǔn)溫度和受力(重力和測(cè)量力)而產(chǎn)生變形，形成測(cè)量誤差。在測(cè)量過(guò)程中，控制測(cè)量溫度及其變動(dòng)、保證測(cè)量器具與被測(cè)零件有足夠的等溫時(shí)間、選用與被測(cè)零件線脹系數(shù)相近的測(cè)量器具、選用適當(dāng)?shù)臏y(cè)量力并保持其穩(wěn)定、選擇適當(dāng)?shù)闹С悬c(diǎn)等，都是實(shí)現(xiàn)最小變形原則的有效措施。
　　二、基本測(cè)量原則
　　在實(shí)際測(cè)量中，對(duì)于同一被測(cè)量往往可以采用多種測(cè)量方法。為減小測(cè)量不確定度，應(yīng)盡可能遵守以下基本測(cè)量原則:
　　(1)阿貝原則：要求在測(cè)量過(guò)程中被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度應(yīng)安置在同一直線上的原則。若被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度并排放置，在測(cè)量比較過(guò)程中由于制造誤差的存在，移動(dòng)方向的偏移，兩長(zhǎng)度之間出現(xiàn)夾角而產(chǎn)生較大的誤差。誤差的大小除與兩長(zhǎng)度之間夾角大小有關(guān)外，還與其之間距離大小有關(guān)，距離越大，誤差也越大。
　　(2)基準(zhǔn)統(tǒng)一原則：測(cè)量基準(zhǔn)要與加工基準(zhǔn)和使用基準(zhǔn)統(tǒng)一。即工序測(cè)量應(yīng)以工藝基準(zhǔn)作為測(cè)量基準(zhǔn)，終檢測(cè)量應(yīng)以設(shè)計(jì)基準(zhǔn)作為測(cè)量基準(zhǔn)。
　　大家在使用影像測(cè)量?jī)x的過(guò)程中只有正確掌握測(cè)量方法，遵循基本的操作原則，才能獲得較為精確的測(cè)量數(shù)值，不然就可能對(duì)結(jié)果造成誤差。